基于ARM的全自动X射线晶片分类机核心测控系统的开发
Development of Core Measuring and Controlling System for the Automatic X-ray Cystal Sorter Based on ARM
随着嵌入式技术的不断发展,它在工业控制领域的应用也越来越受到人们的关注,并发挥着重要的作用.ARM(Advanced RISC Machines)公司的32位RISC处理器,以其高速度、低功耗、低成本、功能强、特有16/32位双指令集等诸多优异的性能,己成为移动通信、手持计算、多媒体数字消费、工业控制等嵌入式解决方案中的首选处理器. X射线角分类机是以X射线为手段,依据布拉格方程,对晶体进行分析的光机电一体化精密仪器.为了实现晶片定向的自动上料、自动测量、自动分选下料功能,三者结合下达到无人看管全自动工作的目的,同时提高测量精度和工作效率.本文在自动上料和下料子系统已经设计完成的情况下,设计了基于ARM的全自动X射线角分类机的核心测控系统. 此次核心测控系统的设计内容主要包括硬件方面的设计,Windows CE操作系统的移植,以及应用软件方面的设计.本文完成了以 S3C2410 ARM芯片为CPU的硬件控制电路设计,BSP的开发,Boot Loader的设计以及部分驱动程序的开发,在此基础了编写了应用程序,实现了核心测控系统所要求的功能.为了提高测量精度,文中还研究了IIR数字滤波器的设计方法,并进行了Matlab仿真,最终通过程序加以实现.
- 作者：
- 张连峰
- 学位授予单位：
- 信息科学与工程学院
- 专业名称：
- 控制理论与控制工程学科
- 授予学位：
- 硕士
- 学位年度：
- 2008年
- 导师姓名：
- 关守平
- 关键词：
- 全自动X射线晶片分类机；ARM；S3C2410；Windows CE；IIRAutomatic X-ray Cystal sorter；IIR
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