基于μC/OS-II的红外辐射测温系统研究
Research of Infrared Radiation Temperature Measure System Based on μC/OS-II
红外辐射测温在冶金企业有着广泛的应用,随着电子技术和嵌入式技术的发展,红外辐射测温技术得到飞速发展.利用红外辐射的原理进行温度测量的仪器对热轧带钢的温度测量和管理至关重要. 本文研究并设计了一款基于ARM 微控制器的红外辐射测温装置.该装置采用以ARM7为内核的高速、高性价比的芯片S3C44B0,通过S3C44B0对外围芯片和器件的控制,实现了可应用于冶金企业的温度检测,具有LCD显示、信号输出、参数设定等功能的装置. 本文以嵌入式终端设备为主体,全面论述了系统的设计与实现.介绍了系统的硬件设计,在嵌入式系统的介绍中,详细的介绍了μC/OS-II系统.分析了嵌入式实时操作系统uC/OS-II 如何移植到ARM7 内核上,主要论述了应用程序的开发.本文最后对系统作了总结,并针对目前尚有的不足及未来的进一步应用与发展做了展望. 通过本课题的研究,能使开发者真正地掌握μC/OS-II设计的核心技术和开发方法,改变以往设计只能针对具体的应用从零做起的局面,尽快实现一个μC/OS-II的框架,把主要精力集中在对硬件结构相关的代码的实现上,大大减少了研发人员的在开发过程中的复杂度,这将使开发方法更具科学性,以提高嵌入式系统开发的效率,减少系统开发的工作量.
- 作者：
- 王兵
- 学位授予单位：
- 信息科学与工程学院
- 专业名称：
- 控制工程
- 授予学位：
- 硕士
- 学位年度：
- 2008年
- 导师姓名：
- 杨卫国
- 关键词：
- μC/OS-II；红外辐射测温；嵌入式系统；ARMμC/OS-II ；infrared radiation temperature measure；embedded system ；ARM (Advanced RISC Machines)
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