不锈钢钝化膜的半导体性能研究
该文采用光电化学方法,微区扫描光电化学成像方法,配合动电位扫描,恒电位阴极还原、腐蚀电位衰减等现场测试手段,研究了AISI304,1Cr25高铬不锈钢在不同介质中载波钝化膜的性质以及有晶界偏析的敏化1Cr18Ni9Ti不锈钢钝化膜的半导体特性.采用AES和SEM技术研究了钝化膜的形貌和组成.结果表明,载波钝化能提高钝化膜的耐阴极还原溶解能力,显著抑制钝化膜的活性点的腐蚀,改变了钝化膜的电化学参数,其钝化膜的半导体特性也发生改变.载波钝化膜基本上是高度无序的非晶态膜,对于敏化1Cr18Ni9Ti不锈钢钝化膜,随敏化度的增大,晶间腐蚀变大,钝化膜表面经EPR处理后Fe/Cr减小,在不同的电位间内,显示不同的导电特性,发生了n-p-n转型.随敏化度的不同,光电化学性质存在明显差异.研究表明,光电化学方法及微区扫描光电化学方法是研究钝化膜半导体性质的有力的无损现场检测方法.
- 作者：
- 杜天保
- 学位授予单位：
- 中国科学院金属腐蚀与防护研究所
- 专业名称：
- 金属腐蚀与防护
- 授予学位：
- 硕士
- 学位年度：
- 1996年
- 导师姓名：
- 曹楚南；林海潮
- 中图分类号：
- TG171
- 关键词：
- 光电化学；钝化膜；载波；微区扫描；腐蚀评定
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